摘要：本发明公开了一种逆反射标志测量仪，其技术方案要点是包括光学暗箱和光源，光源设置在光学暗箱内，光学暗箱的表面设置有开口，开口处设置有遮挡开口的试样，光学暗箱上设置有调节槽，调节槽内设置有对试样反射的光进行引出的光纤，光纤连接有对光纤引出的ξ 光进行检测的光探测器，调节槽处设置有固◣定组件，光纤通过固定组件与光学暗箱可拆卸固定←连接，达到了方便进行多角度测量的目的。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京中交工程仪器研究所;
- 发明人杨宗文;
- 地址102600 北京市大兴区黄╲村镇刘一村委会西500米
- 申请号CN201610251119.5
- 申请时间2016年04月21日
- 申〒请公布号CN105758823A
- 申请→公布时间2016年07月13日
- 分类号G01N21/47(2006.01)I;
