摘要：本实用新型公开了一种逆反射标志测量仪的光路系统▂，包括标准光源、第一聚焦镜片、半透半反射镜、折光筒、第二聚焦镜片和光接收器；所述〗第一聚焦镜片装置于所述标准光源的光路径上，且所述标准光源位于所述聚焦镜片的焦平面中心；所述半透半反射镜装置于所述聚焦镜片的下方，所述半透半反射镜为倾斜设置，且倾斜方向是朝向所述光接收器；所述折光筒装置于所述半透半反射镜和待测试样逆反射标志之间；所述第二聚焦镜片装置于所述折光筒的上方，所述第二聚焦镜片的直径大于等于所述折光→筒的内径。其能够避免反射光在光路中的能量损失，可完∏全到达光接收器，进而提高了测量结果的准确性。
- 专利类型实用新型
- 申请人北京中交工程仪器研究所;
- 发明人杨宗文;田晓辰;吴会杰;高建涛;
- 地址100000 北京↙市大兴区黄村镇刘一村委会西500米
- 申请号CN201620040235.8
- 申请时间2016年01月15日
- 申请公布号CN205374280U
- 申请公布∏时间2016年07月06日
- 分类号G01N21/01(2006.01)I;
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