摘要：该发明属于电子信息技术领域中天线阵列相位响应参数的测定方法，包括♀初始化处理，建立第一个方向及余各设定方向的多径信号方向差矩阵，确定各设定方向校正信号源的直达波信号与非直达波信号之间的方向差，确定均匀线阵相位响应参数。该发明由于采用将校正信号源分别置于︼不同的已知方向上并依次发射信号，均匀线阵收到该信号源发射的各次信号后，对各次多径信号分别进行处理，建立各方向差矩阵并确定各校正信号源的多◣径信号之间的方向差，进而确定均匀线阵相位响应参数向量及归一化平均向量的共轭向量。从而具有在多径且非直达波信号方向未知传播环境中，准确测定均匀线阵相位响应参∞数且所测参数与实际参数之间的误差小、相似度高等特点。
- 专利类型发明专利
- 申请人电子科技大学;同方电子科技有限公司;
- 发明人万群;肖洪坤;徐保根;万义和;汤四龙;丁学科;龚辉;殷吉昊;邹麟;饶中初;
- 地址611731 四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
- 申请号CN201410338672.3
- 申请时间2014年07月16日
- 申请公↑布号CN104142445B
- 申请公布时间2016年08月17日
- 分类号G01S5/02(2010.01)I;
