摘要：本发明实施例提供一种RAM检测方法及系统，其中方法包括：预先对RAM空间进行分段处理，将RAM空间划分为一个存储重要数据的区域段及其他区域段，在操作系统启动时，对所述存储重要数据的区域段进行RAM检测；在当前操作系统的周期任务为预先设定的低优先级周期任务时，对所述其他区域段进行RAM检测。本发明实施例提供的RAM检测方法能够在不影响控制器的运行速度及执行时间的情况下，对RAM进行全面的检测，解除RAM所存在的安全隐患。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京经纬恒润科技有限公司;
- 发明人刘博;张阳;王载琼;
- 地址100101 北京市朝阳区安翔北里11号B座8层
- 申请号CN201310436088.7
- 申请时间2013年09月23日
- 申请公布号CN103455436A
- 申请公布时间2013年12月18日
- 分类号G06F12/02(2006.01)I;G11C29/04(2006.01)I;
