摘要：本发明涉及一种光探测器线性范围的测试装置及测试方法，该测试装置包括光源、探测系统以及位于二者之间的光处理系统，所述光处理系统包括减光装置和分光装置，所述减光装置包括偏振片组，所述分光装置包括一个专用减光片或者一个分光镜片，通过将专用减光片交互移出、移入测试光路，或者将分光镜片分别与参考探测器、被测探测器连接，以测试线性范围。本发明的线性范围测试装置光路设计简单、成本较低、测试精度高。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京滨松光子技术股份有限公司;
- 发明人郭维新;袁秀丽;杨庆坤;李妙堂;
- 地址100070 北京№市丰台区南四环西路188号总部基地11区18号楼
- 申请号CN201110461218.3
- 申请时间2011年12月31日
- 申请公布卐号CN102721528A
- 申请公布时间2012年10月10日
- 分类号G01M11/02(2006.01)I;
