摘要：本发明涉及一种提高3D离子阱检测效率的方法，具体为：在离子化阶段：电子通过第一电子透镜，并进入所述3D离子阱；在质量分析阶段：没有电子通过所述第一电子透镜；3D离子阱出射离子：其中一方向上出射的离子∮在第一电子透镜的作用下偏转，之后被检▃测，另一方向上出射的离子也被检测。本发明还公开了一种实现上述方法的装置。本发明具有离子检测效率高、离子化效率高和结构简单等优点。
- 专利类型发明专利
- 申请人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 发明人李晓旭;吴文明;郑毅;刘立鹏;
- 地址310052 浙江省杭州市滨江区滨安路760号
- 申请号CN200910156631.1
- 申请时间2009年12月29日
- 申请◥公布号CN101777483B
- 申请公布时间2012年03月07日
- 分类号H01J49/42(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I;
