摘要:本发明涉及一种检测装置的扫描头结构及其检测方法,藉由将多个CCD阵列以不同高度设置于扫描头内,可在同一次扫描作动期间分别撷取多个独立的检测物影像以获得最佳检测影像进行影像比对,从而有效增加影像比对的精确性。本发明将多个CCD阵列以不同高度设置于扫描头内,使各个CCD聚焦范围不同故可以提高整体景深。
- 专利类型发明专利
- 申请人上海中晶科技有限公司;
- 发明人吴金来;杨智光;
- 地址200233上海市漕河泾々开发区桂平路680号35号楼
- 申请号CN200810042546.8
- 申请时间2008年09月05日
- 申请公∞布号CN101666615A
- 申请╳公布时间2010年03月10日
- 分类号G01B11/00(2006.01)I;