摘要：本发明适用于光电测距领域，提供了一种相位测量的校准方法、装置及测距设备，所述⊙方法包括：第一光波发射装置发射第一光波至被测目标，所述第一光波被被测目标反射折＠回后被一接收装置接收，其中，所述光波作为外光路信号由第一高频振荡信号调制生成；第二光波发射装置发射第二光波至所述接收装置，其中，所述光波作为基底参考的内光路信号由第二高频振荡信号调制生成；所述接收装置将先︻后接收到的两路所述光波进行相位比较，输出消除基底的信号。本发明实现了相位补偿和校准的目的，避免了环境变化在电路中引入不确定的相位噪№音，提高了激光测距的测量▃精度，减少了环境因素对测距误差的影响，减低了系统的▲成本，加强了激光测距在各行业的应用。
- 专利类型发明专利
- 申请人深圳市迈测科技有限公司;
- 发明人杜鑫;伍昕;侴智;
- 地址518000 深圳市宝安桃花源创新科技园(铁岗水库旁)孵化大楼A栋315
- 申请号CN200810067250.1
- 申请时间2008年05月16日
- 申请公『布号CN101581783B
- 申请公布时间2013年04月17日
- 分类号G01S7/497(2006.01)I;G01S17/32(2006.01)I;
