摘要：本发明提供一种超声测厚仪∏↘的单晶探头和双晶探头识别和应用方法，该方法包括：将发射电路和接收电路同时与第一探头插座接通，根据接收到的信号，判断该第一探头插座上连接是否有超声探头晶片存在；以及将发射电路和接收电路同时与第二探头♀插座接通，根据接收到的信号，判断该第二探头插座上连接是否有超声探头晶片存在，从而进一步判断连接的探头是单晶探头还是双晶探头，并将电路切换到该类探头的应用状态。本发明还提供⌒一种超声测厚仪，该超声测厚仪包括通路切换电路，设置在发射电路和接收电路与探头插座之间。本发明在同一台超声测厚仪上实现单晶探头测量方式【或双晶探头测量方式，提高了测试效▲率。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京时代之峰科技有限公司;
- 发明人孙磊;曹永超;彭雪莲;徐西刚;
- 地址100085 北京市海淀区上地西路28号1幢二层
- 申请号CN200710308465.3
- 申请时间2007年12月29日
- 申请公布ξ 号CN101469979B
- 申请公布时间2011年04月13日
- 分类号G01B17/02(2006.01)I;
