摘要：本发明提供一种超声测厚仪的单晶探头和双晶探头识别和应用方法，该方法包括：将发射电路和接收电路同时与第一探头插座接通，根据接收到的信号，判断该第一探头插座上连接是否有超声探头晶片存在；以及将发射电路和接收电路同时与第二探头插座接↑通，根据接收到的信号，判断该第二探●头插座上连接是否有超声探头晶片存在，从而进一步判断连接的探头是单晶探头还是双晶探头，并将电路切换々到该类探头的应用状态。本发明还提供一』种超声测厚仪，该超声测厚仪包括通路切换电路，设置在发射电路↙和接收电路与探头插座之间。本发明在同一台超声测厚仪上实现单晶探头测量方式或双晶探头测量方式，提高∑了测试效率。
- 专利类型发明专利
- 申请人北京时代之峰科技有限公司;
- 发明人孙磊;曹永超;彭雪莲;徐西刚;
- 地址100085北京市海淀区上地西路28号1幢二层
- 申请号CN200710308465.3
- 申请时间2007年12月29日
- 申请公布↘号CN101469979A
- 申请公布时间2009年07月01日
- 分类号G01B17/02(2006.01)I;
