摘要：本发明涉及一种具有温控功能和避免结露的测量半导体发光器件用的温控座。它包括温⌒控装置和与温控装置相配合的密封罩，被测试件可置于密封罩内与温控装置相配合。本发明的显著的进步为：1.温控装置的设置，使被测试件始终处于相对恒温状态，测试结∏果准确；2.设有密封罩，可以使被测试件与周围环境隔绝，避免受周◣围环境的影响；3.密封件的设置，使密封罩的密封效果更好；4.抽气口的设置，真空机通过抽气口连接到密封罩上，可将密封罩内空气抽取，减少水汽，避免水汽凝结到被测¤试件上。
- 专利类型发明专利
- 申请人杭州浙大三色仪器有限公司;
- 发明人牟同升;
- 地址310013浙江省杭■州市西溪路525号浙大科技园G楼ω浙大三色
- 申请号CN200710164723.5
- 申请时间2007年12月10日
- 申请公布号CN101187689A
- 申请公布时间2008年05月28日
- 分类号G01R31/26(2006.01);G01J1/00(2006.01);G05D23/00(2006.01);
