手持式数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准。

　　仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头等二部分组成，也可加配测试台。

　　主机主要由数控恒流源，分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用旋钮输入；具有零位、满度自校功能；全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采◆用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

　　探头选配：根据不同材料性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料▃的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电⌒膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻』以及开关类接触电阻行测量。配用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。

　　仪器具有测量精度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等点。

　　仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体『材料的导电性能的测试。