反射、透射这两种模式是光谱测量的基本手段。实现这两种模式的光谱」测量，通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。

　　卓立为用户提供了以光谱仪为核心的光谱测量设备。利用这些配置丰富的设备，就可以搭建各种常见的光谱测量系统。

　　透 射、反射/吸收率▓是光学元件(如光学材料、滤光片、镀膜等)与多种卐生活材料(玻璃、布料、汽车贴膜√等)的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光■谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化※的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反 射率的光谱测试。

　　系统组成：光源系统+分光系统+样品检测系统▅+数据采集及处理系统+软件系统+计⊙算机系统

　　■ OmniAS透射、反射/吸收光谱测量系统