非饱和高压加速老Ψ化试验箱澡盆曲线：澡盆曲线(Bathtubcurve、失效时期)，又用称为浴缸曲线、微笑曲线，主要是显示产品的于不同时期的失效率，主要包含早夭期(早※期失效期)、正常期(随机失效期)、损耗期(退化失效期)，以环境试验的可靠度试验箱来说得话，可以分爲筛选试验、加速寿命试验(耐久性试验)及失效率试验等。进行「可靠性试验时"试验设计"、"试验执行"及"试验分析"应作爲一个整体来综合考虑。
　　非饱和高压☆加速老化试验箱压力蒸煮锅试验(PCT)结构：试验箱由一个压力容器组成，压力容器包括一个能産生100%（润湿）环境的水加『热器，待测品经过PCT试验所出现的不同失效可能是大量水气凝结渗透所造成的♀。
　　常见失效时期：
　　早期失效期(早夭期，InfantMortalityRegion)：不够完善的生産、存在缺陷的▓材料、不合适的环境、不够完善的设⌒计。
　　随机失效期(正常期，UsefulLifeRegion)：外部震荡、误用、环境条件的变化波动、不良▼抗压性能。
　　退化失效期(损耗期，WearoutRegion)：氧化、疲劳老化、性能退化、腐蚀。

　　说明：非饱和高压加速老化试验箱又称PCT试验一般称为压力锅蒸㊣　煮试验或是饱和蒸汽试验，最主要是将待测品置于严苛之温度、饱和湿度(100%R.H.)[饱和㊣水蒸气]及压力环境下测试，测试代★测品耐高湿能力，针对印刷线路板(PCB&FPC)，用来进行材料吸湿率试】验、高压蒸煮试验..等试◇验目的，如果待测品是半导体的话№，则用来测试半导体封装之抗湿气能力，待测品被〓放置严苛的温湿度以及压力环境下测试，如果半导体封装的不好，湿气会沿者胶体或胶体与导线╳架之介面渗入封装体之中，常见的故装原因：爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污∩染造成之短路..等相关问题。