薄层成像扫描仪XN-2
薄层成像扫描仪XN-2
仪器参数
1,扫描方式:线性扫描,双波长扫描,多通道扫描.
2.光源:254/365nm紫外光、400-750nm可见光(选择波长)。
3.分辨率可达10um.
4.重现性:≥99%
5. 检测方式:反射法、荧光法。
6、算法:归一法,内标法,外标法(一点直线法,两点曲线法),符合药典要求。7.软件环境:WINXP/2000/NT,
仪器参数
1,扫描方式:线性扫描,双波长扫描,多通道扫描.
2.光源:254/365nm紫外光、400-750nm可见光(选择波长)。
3.分辨率可达10um.
4.重现性:≥99%
5. 检测方式:反射法、荧光法。
6、算法:归一法,内标法,外标法(一点直线法,两点曲线法),符合药典要求。7.软件环境:WINXP/2000/NT,