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                德国KARL DEUTSCH涂↘层测厚仪LEPTOSKOP 2042

                德国KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042
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                LEPTOSKOP 2042
                全阶段
                详细说明

                  LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042详细介绍:

                  LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042多功能仪器具有精确的测量技术,操作简便。还包括通过解锁代码进行快速现场升◣级的选项。

                  系统可定制的涂层测量

                  LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042用于测量〖磁性基材上的非磁性涂层的厚度(根据DIN EN ISO 2178)并通过涡流法测量非磁性导电基材上的非导电涂层的厚度(根据DIN EN ISO 2360)。

                  LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042应用

                  可靠的技术与舒适的工具相结合,例如将厚度值显示为模拟指针,类似于Windows的文件管理以及10种不同语言的免费选择,可以满足有抱负的【用户的所有愿望。

                  LEPTOSKOP 2042是一款经济型仪器,电池使用寿命超过100小时。

                  该仪器会记录操作时间和测量次数,因此这些重要参数※本身可用于正确跟踪测试设备。

                  供货范围内包括彩色橡胶保护套,并具▆有防滑保护功能,可在工业环境中保护【仪器。

                  LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042特点:

                  大①型图形显示屏48毫米x 24毫米,带照明

                  校准选项:

                  出厂前已校准,可立即进行ω 测量

                  在未知◤涂层上校准*

                  零位校准*

                  在未涂覆的基材■上进行一次和多箔校准*

                  校准涂层材料*

                  校准数据可以单◎独存储在单独的校准文件中,也可ω以从那里重新加载。

                  可选择的显示模式,适应测量任务*

                  输入和监控限额*

                  在Windows?下可以轻松管理文件来存储读数*

                  可与PC软件 EasyExport和 iCom一起使用

                  统计*

                  统计评估多达卐999个读数

                  局部厚度和平均涂层厚度(DIN EN ISO 2808)

                  在线统计,所有统计值一目了然

                  LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042选型:

                  LEPTOSKOP 2042具有三种配置级别:

                  基本 -质量可靠的基△本功能

                  统计 -附加统计评估

                  统计和№数据存储 -统计评估和数据存储

                  如果需要,可以随时将←量规升级到高级和/或专业级别。升级过程通过代码执行,可以在现【场输入代码以解锁模块“统计”和/或“统计和『数据存储”。如果要为新的测量需求添加功能,则无需将仪表返回KARL DEUTSCH进行升级或购买新仪↓表。

                LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042技术数据
                串行接口用于将数据传输到RS232或USB
                电源通过电池,USB或电源装置
                测量范围0-20000 μm(取决于探头)
                测量率每秒高达2个读数
                存储 9999个读数(140个文件)
                测量不确定度(校准后)涂层厚度<100 μm:读数的1%+/- 1 μm 涂层厚度> 100 μm:读数的1.0.3%+/- 1 μm 涂层厚度> 1000 μm:读数的3..5% /-10 μm 涂层厚度> 10000 μm:读数的5%+ /- 100 μm
                LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042附件
                • 测试■块和校准箔

                • 探头定位∮装置-适用于所有微型探头

                • 定位辅助-适用于所有微型探针

                • PC软件iCom-用于数据传输和整个目录结构的便捷管理

                • PC软件EasyExport-用于将单个读数或完整文件轻松导出到Windows?程序

                  SAG:LEPTOSKOP 2042,LEPTOSKOP 2042涂层测厚仪,LEPTOSKOP2042涂层测厚仪,KARL DEUTSCH涂层测厚仪,KARL DEUTSCH LEPTOSKOP2042,涂层测厚仪

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