品牌德国 Instrument Systems光谱仪型号CAS140D
用途用于辐射和亮度测量的一体化系统 DTS140D NVIS货期4-6周
产地德国定制根据使用需求搭配相应的光╱学测量系统
德国Instrument Systems（IS）CAS140D DTS光谱辐射显示测量系统
用于辐射和亮度测量的一体化系统 DTS140D NVIS
用于 VCSEL 特性测定的精密系统
用于 UV-LED 生产的参考系统
详情介绍
德国Instrument Systems（IS）CAS140D DTS光谱辐射显示测量系统
CAS 140D – 光测量标准
Instrument Systems 的 CAS 140D 阵列光谱仪被视为弱光源¤和辐射度的光谱光测量技术的基准。
该产品基于久经考验的交叉 Cerny-Turner 光谱仪并配备具有冷却性能的 CCD 探测器，具有以下特色
测量准确度较高和杂散光抑制
再现性◣和稳定性
积分时间短
CAS 140D 的应用范围从校准实验室的标准仪器到生产中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems的一个特定质量属性是可追溯至PTB和NIST的校准，我们的光谱仪都配备该校准功能。
与广泛的配件搭配组合，可以将光谱仪升级为一体化系统，适用于各种光谱辐射和光度测量任务。
在校准过程中使用杂散光校正矩阵运算（可选），可进一步降低 CAS 140D 原本就出色的杂散光值。因此，该测量仪器也非常适合 UV-LED 和 LED 光源危害等级（光生物）的测定。
CAS 140D – 产品性能：
作为标准仪器使用
200 – 1100nm 都有相应型号
具有冷却性能的“薄型背照式"探测器，用于小暗卐电流
具有强杂散光抑制的光谱仪
4 ms 至 65 s 的积分时间
配件自动识别
综合性 SpecWin Pro 光谱软件
测量关联色温 (CCT) 和显色指数 (CRI)
标准色度坐标上 ±0.0015 的可追溯测量不确定性
额外杂散光校正（可选）
面向 LED、照明设备或显示屏ω 的一体化系统
CAS 140D 是 Instrument Systems 系统解决方案中的重要测量仪器。辅以软件包（SpecWinPro、LumiSuite）、积分球、测角仪、图像色度测量仪和广泛配件，我们针对卐测量挑战提供合适的一体化系统，按照您行业的当前标准制定。
无论是需要对个别 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 产品执行辐射或光度测量，还是需○要评估基于 LED、OLED 或 μLED 的显示屏 – CAS 140D 适用于想得到的光度应用以及实验室和生产挑战。
CAS 140D – 技术数据
型号 | UV/VIS | UV/VIS/NIR | VIS | VIS/NIR |
|---|---|---|---|---|
光谱范围 | 200-830 nm | 220-1020 nm 300-1100 nm | 360-830 nm | 380-1040 nm |
光谱分辨率 (100 μm 狭缝) | 3.0 nm | 3.7 nm | 2.2 nm | 3.0 nm |
数据点间隔 | 0.65 nm | 0.8 nm | 0.5 nm | 0.65 nm |
LED 的杂散光 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 |
波长测量精度 | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm |
用于辐射和亮度测量的一体化系统 DTS140D NVIS 通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光谱仪 | CAS 140D 光谱范围为 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。 |
光学探头和镜头 | 用于 4 种测量点大小的带机动孔径轮的 TOP 200 光学探头，具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校准摄像头和 HRL90 镜头。提供更多焦距选择。 |
校准 | 光谱辐射和亮度校准，可追溯至标准 PTB 或 NIST。包括 MIL 证书。 |
软件 | SpecWin Pro 实验室软件，具有各种功能和特殊 NVIS 评估模块。 |
杂散光矩阵（可选，不属于 MIL 测试必需配置） | 杂散光矩阵（可选，不属于 MIL 测试必需配置） |
辐照度光学探头（可选） | 用于依据 SAE ARP5825（外部照明 NVIS 友好型）标准进行测量 |
定位器（可选） | 手动或全自动定位器/测角仪，例如 DTS 500 |
用于 VCSEL 特性测定的精密系统
VCSEL 具有出色的光束特性，因此适用于关键应用。典型示例是通过 LiDAR 进行面部识别。但是，在有人员活动的环境中使用激光二极管，使测定其光束特性变得重要，并对使用的测量系统提出了挑战。
在 CAS 系列光谱仪高分辨率版本的基础上，Instrument Systems 提供了针对实验室 VCSEL 特性测定而进行优化调节的测量系统。借助合适的配件，可满足▂不同的个别需求。请与我们联【系！
关键特性：
0.12 nm 的出色光谱分辨率
4 ms 以上的积分时间
用于▓脉冲激光二极管/VCSEL 的阵列光谱▲仪
测量挑战
激光二极管通常在很窄的光谱范围内提供好的性能。因此，Instrument Systems 提供光谱分辨率达 0.1x nm、积分时间达 4 ms 以上的光谱仪，用于实验室 VCSEL 测量。这些光谱仪的可追溯校准的一↘个优势是可从测得的光谱中简单◥地计算出辐射通量。或者，该测量系统也可由光电二极管扩展，例如，用于测量脉冲激光二极管的脉冲波形。如果需要测试 ns 范围的脉冲，可使用系统 (PVT 110)。如果您有此类需求，请联系我们。
系统配置
实验室』用于测定激光二极管/VCSEL 的辐射通量的一体化系统通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光谱仪 | - 具有 0.2 nm 光谱∮分辨率的高分辨率 CAS 140CT-HR，作为配有带制冷的 CCD 探测器的测量解决方案，可实现稳定性，例如在参考系统中。 - 具有 0.1x nm 光谱分辨率的高分辨率 CAS 120B-HR，作为 CAS 140CT-HR 的替代产品。 |
积分球 | - 具有 75 和 100 mm 小内径的 ISP 75 和 ISP 100。外形小巧，适合安装在处理器和探测器系统中。 - 可选：带∮光电二极管的 ISP 100，例如，使用脉冲激光二极管测定脉冲波形特性。 - 替代产品：ISP 150L，内径为 150 mm，直径为 50 mm 的测量端口可用于测量较大激光模块/阵列，带有借助集成式辅助光源实现的自吸收修正功能。 |
| 校准 | 可追溯至标准 PTB 或 NIST 的校准。 |
软件 | SpecWin Pro 实验室软件。CAS.dll 和 SDK，用于集成到客户的生产流程中。 |
IR 参考 LED （可选） | ACS-570-15、-17：具有 860 nm 和 950 nm 的参考 LED。为了稳定操作和精度，建议与稳定的 PSU-10 |
用于 UV-LED 生产的参考系统
UV-LED 实验室测量站用于测试新产品，或为 UV-LED 生产构建参考系统等。为了满足新测量场景的需要，Instrument Systems 的产品组合中的单个系统组件需要不断地进行技◥术改进。
关键特性：
200 nm 以上 UV 范围内的灵敏⊙度测量
可追溯到 PTB 的校准
杂散光水平低
可选：能实现测量准确度的杂散光校正矩阵
测量挑战
要准确地测量 UV-LED 的辐射通量，需要灵敏的光学测量系统进行辐射特性测定。适用于光功率通常相对较低的 UVB 和 UVC-LED 的频谱◣范围。
系统配置
实验室用于测定 UV-LED 的辐射通量的一体化系统通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光谱仪 | -CAS 140D-157 (UV-VIS)，光谱范围为 200-830 nm，在 200 nm 以上 UV 范围内的灵敏度较好。 |
积分球 | -积分球 ISP50UV、ISP150UV 和 ISP250UV，内径分别为 50、150 和 250 mm，采用 PTFE 反射材料，200 nm 以上 UV 范围内具有高光通量。用于放置 LED 测试夹具的套筒板和用于外部辅助光源的 SMA 连接可供实验室使用。 |
| 校准 | -可追溯至标准 PTB 或 NIST 的校准。 |
软件 | -实验室软件，具有测量 LED 的多项功能 |
UV 参考 LED（可选） | -ACS-570-24、-26、-28：具有 285 nm、315 nm 和 365 nm 的参考 LED，用于测试 UV 测量系统。与稳定的 PSU-10 电源结合使用。 |
杂散光矩阵（可选） | -使用光谱仪特定的数值杂散光校正可实现尽可能较好的杂散光校正。 |
辅助光源（可选） | -LS500 双光源，使用卤素灯和氘灯进行自吸收校正。 |
LED 测试夹具（可选） | -带或不带主动制冷的制定 LED 测试夹具，为积分球的 LED 套筒板量︻身制定。 |
用于 VCSEL 特性测定的精密系统
VCSEL 具有出色的光束特性，因此适用于关键应用。典型示例是通过 LiDAR 进行面部识别。但是，在有人员活动的环境中使用激光二极管，使测定其光束特性变得重要，并对使用的测量系统提出了挑战。
在 CAS 系列光谱仪高分辨率版本的基础上，Instrument Systems 提供了针对实验室 VCSEL 特性测定而进行优化调节的测量系统。借助合适的配件，可满足不同的个别需求。请与我们联系！
关键特性：
0.12 nm 的出色光谱分辨率
4 ms 以上的积分时间
用于脉冲激光二极管/VCSEL 的阵列光谱仪
测量挑战
激光二极管通常在很窄的光谱范围内提供好的性能。因此，Instrument Systems 提供光谱分辨率达 0.1x nm、积分时间达 4 ms 以上的光谱仪，用于实验室 VCSEL 测量。这些光谱仪的可追溯校准的一个优势是可从测得的光谱中简单地计算出辐射通量。或者，该测量系统也可由光电二极管扩展，例如，用于测量脉冲激光二极管的脉冲波形。如果需要测试 ns 范围的脉冲，可使用系统 (PVT 110)。如果您有此类需求，请联系我们。
系统配置
实验室用于测定激光二极管/VCSEL 的辐射通量的一体化系统通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|---|
光谱仪 | - 具有 0.2 nm 光谱分辨率的高分辨率 CAS 140CT-HR，作为配有带制冷的 CCD 探测器的测量解决方案，可实现稳定性，例如在参考系统中。 - 具有 0.1x nm 光谱分辨率的高分辨率 CAS 120B-HR，作为 CAS 140CT-HR 的替代产品。 |
积分球 | - 具有 75 和 100 mm 小内径的 ISP 75 和 ISP 100。外形小巧，适合安装在处理器和探测器系统中。 - 可选：带光电二极管的 ISP 100，例如，使用脉冲激光二极管测定脉冲波形特性。 - 替代产品：ISP 150L，内径为 150 mm，直径为 50 mm 的测量端口可用于测量较大激光模块/阵列，带有借助集成式辅助光源实现的自吸收修正功能。 |
| 校准 | 可追溯至标准 PTB 或 NIST 的校准。 |
软件 | SpecWin Pro 实验室软件。CAS.dll 和 SDK，用于集成到客户的生产流程中。 |
IR 参考 LED （可选） | ACS-570-15、-17：具有 860 nm 和 950 nm 的参考 LED。为了稳定操作和精度，建议与稳定的 PSU-10 电源结合使用。 |
德国Instrument Systems（IS）CAS140D DTS光谱辐射显示测量系统
