DSR300微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低微材料光电测∏试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的 光谱祥响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求，是微♀纳器件研究的优选。
DSR300微纳器件光谱响应度测试系统功能：
■ 光谱响应度■ 外量子效率■ 单色光/变功率IV■ 不同辐≡照度IT曲线（分辨率200ms）■ 不同偏压↘下的IT曲线■ LBIC，Mapping■ 线性度测试■ 响应速率测试主要》技术参数：
三维可调高稳定探针台结构，方便样品位置调节
测试功能曲╱线：
