TIR 100-2红外热发射率测卐定仪，TIR100-2热辐射率仪是一款紧凑的手持式设备，可精确，无损地测量几乎所有表面的热辐射率。
测量元件，操作控制，控制设备和评估电子设备也都节省了空间，并放置在手持式设备中。仪器操作仅需电源。该设备的操作通过发光的触摸屏显示器实现。
TIR100-2红外热发射〒率测定仪※，TIR100-2热辐射率仪功能：
用100°C半球形黑体辐射器漫射╲物体表面。在属于仪器的校准标∏准的校准值的帮助下，测量反射的红外辐射并将其转换〖为发射率的值。结果立即显示在设备ξ 的触摸屏上。
详细的说明手册介绍了测量过程的物理基础以及进行精确测量的ζ 方法。
TIR100-2红外热发射率测定仪，TIR100-2热辐射率仪应用领域
TIR100-2可用于涂覆过程后的质量控制，或用于实验室的○研究和开发。
玻璃的测量结果相当等于
符合EN 12898的结果。
涂层箔作︼为建筑箔的发射率是
在prEN 15976之后测量。
TIR100-2红外热发射率测定仪，TIR100-2热辐射率仪的一些典型的应用：
镀膜玻璃的鉴定:1.镀膜玻璃的质量控制
热保护绝缘玻璃的的低U-值取决于玻璃镀膜的低发射率，TIR 100对镀膜的质量控制以及实验室中开发新镀膜非常有用。
涂有涂层的太阳╱能集热板的鉴定:
太阳能收集器生产的质量控制
优质的太阳能收集器的效率取决于收集器表面非产低的发射率，因此TIR 100也是此行业质量控制的理想设备
涂层箔→的鉴定
卫星热镀层鉴定
TIR100-2红外热发射率测定仪，TIR100-2热辐∏射率仪技术数据
测量范围温度。发射率<0,020…0,980
重复精度（精度）+-0.005（lowE）.. +-0,01（hiE）
光谱范围2,5μm-40μm
辐射能达8μm
黑体温度100°C
测量时间5秒
测量点约 5毫米
额定功率 130 V在...上230 V?/ 115 V?
RS232接口（可选的打印机输出）
尺寸230毫米x 140毫米x 120毫米
重量2.0公斤
参考（校准标准）带肋的铝块，具有热稳定性
低辐射率：高↙精度研磨铝
高发射率：黑光陷阱
低发射面的参考发射率典型值?0,012
模︾具高发射面的典型值> 0.96
出厂时，所有参考文献均已单独调整至物理实验室（GB）的校准标准。
| 电压范围 | 90伏交流电– 260伏交流电 |
|---|---|
| 额定功率 | 240 VAC 130 W 120 VAC 260瓦 |
| 测量范围 | 作为校准标准 |
| 测量不确定度 | +-0,005（lowE）…+ -0,01（hiE） |
| 光谱范围 | 2,5 – 40μm |
| λ辐射能量的 | 7.8微米 |
| 散热器◣温度 | 100°摄氏度 |
| 测量持续时间 | 大约 5秒 |
| 测量点 | 大约 5毫米 |
| 界面 | USB-B |
| 尺寸 | 230毫米x 140毫米x 120毫米 |
| 重量 | TIR100-2：大约 2,0公斤 |
TIR100-2红外热发射率测定仪，TIR100-2热辐射率仪的测量原理
样品在100°C的温度下经受热辐射。黑体半球形辐射器用于封装样品，以确保均匀照明。以一定角度观察反射的红外辐々射，并∞将其转换为数值。然后根据高和低发射率参考标准的校准表绘制该值。
使用TIR时，只需按一下按钮即可完成所有这些操作。
TIR100-2红外热发射率测定仪，TIR100-2热辐射率仪测◇量方法：
TIR100-2红外热发射率测定仪，TIR100-2热辐射率仪标配包括：
TIR100-2型号，您可以⌒选择电源电压（115V或230V）。
二合一校准标准：抛光铝的低发射率值侧和黑体阱的高发∩射率侧。
校准标准的校准证书，可追∑ 溯至柏林（GER）的Physikalisch-Technische Bundesanstalt（PTB）的参考标准，参考。编号73213 PTB 16和73214 PTB16。有效期为两年。
可上锁的便携式硬质铝制外★壳，可轻松存储和运输TIR100-2和标准件。
英文印刷版手册。
TIR100-2红外热发射率测定仪，TIR100-2热辐射率仪可选配：铝箔支架
箔片固定器是一种实用的设备，可将薄涂层的箔片样品（和其他纺织品）平整且均匀地夹持♀在固定器板的整个表面上，如图所示。
两侧各使用两个磁夹将样品锁定在适当的位置。
使用箔Ψ架的另一个好处是可以帮助样品在测量过程中保持室温更长的时间。当使用∴薄材料（如薄涂层的箔）时，这将有助于减少波动，从而提高发射率结果的准确性。
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