X射线显微镜可提供经济，灵活的3D成像，使您能够处理各种样品和研究环境。随着时间的推移，非破坏性X射线成像可以保留并扩展您宝贵样品的使用范围。该仪器实现了0.9μm的真实空间分辨率，*小可实现的体素尺寸为100 nm。先进的吸收和相位对比(适用于软质或低Z材料)为您提供更多功能，以克服传统计算机断层▂扫描(工业CT)方法的局限性。
Xradia Versa解决方案将科学研究扩展到超出基于投影的微米和纳米CT系统的▓极限。传统断层扫描依赖于单级放大倍率，Xradia 410 Versa采用基于同步加速器 - 口径光学系统的＠ 独特两阶段过程。它易于使用，具有灵活的对比度。远距离突破分辨率(RaaD)使您能够在原生◆环境和各种现场钻机中保持广泛的样品尺寸的亚微米分辨率。非破坏性多长度尺度功能允许您在各种ζ放大倍率下对同一样品进行成像，从而可∑以独特地表征连续处理(4D)之间或受到模拟环境条件影响时材料微观结构特性的演变(原地)。
此外，Scout-and-Scan控制√系统可通过基于配方的设置实现的工作流程环境，使Xradia 410 Versa易于为具有各种经验水平的用户提供便利。
优势
Xradia Versa架构采用两』级放大技术，使您能够在远●处(RaaD)独特地实现分辨率。与传统※的微型CT一样，通过几何放︾大放大样本图像。在第二阶段，闪烁体将X射线转换成可见光，然∏后光学放大。减少对几何☉放大率的依赖使Xradia Versa仪器能够在较大的工作距离内保持亚微米分辨率。这使您能够有效地研究*广泛的样本量，包括在原位室内。
非破坏性3D成像，以保留和扩展有价值的样品的使↘用
高空间分辨率低至<0.9μm，体素大小低至100 nm
针对低Z材料和软组〓织的先进对比解决方案
行业领先》的4D和原位功能，适用于灵活的样本量和类型
Scout-and-Scan?控制系统，易于使用的工◢作流程设置，是多用户环境的理想选择
重载样品台和扩展源和探测器台行程
*少需要样品制∴备
通过多个ζ放大检测系统轻松导航
通过自动多点断层扫描和重复扫描连续操作
