M7000自动I-V-L测试系统用于显示设备的多通道测试，具有普通的光学探测器，如光谱仪』或色度计，通过三轴定位器自动改变其测量位置。测试项目涵盖了广泛的显示测试领域，不仅包括显示器件的基本特性，还包括其随时间的长期变化，包括寿命测量。根据功率驱动方式的不同，该系统分为三个子模块：单元器件和PMOLED面板的PMX、AMOLED面板的AMX和带有驱动芯※片的OLED模块的MDX。
-适用于OLED (器件，Panel, 模组)
-多通道 I-V-L & 寿命测试
-亮度/色度/光谱...测试
-电流/功率/量子效率测试
-自动对位 & 自动聚焦控制
-可进行独立温度控制
-阻抗测试
-可视角测试
-影◆像残留测试
