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                OLED TOF测试系统

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                中科院长春应化所,香港大学,中科院福建物构所
                详细说明

                飞行时间法(TOF)测量是表征有机半导体材料载流子迁移率的关键,T3000飞行时间测量系统基于

                脉冲激光和高速测量电子学进行标准飞行时间实验;有助于载流子迁移率随温度变化的研究.


                - 有机半导体中的载流子输运

                - 电子/空穴迁移率的测量

                - 飞行时间法测量(TOF)

                - Dark Injection Transient (DIT)

                - Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage(CELIV)

                - 低温测量

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