? 
Onyx是一种超快速系统，用于石墨烯，2D材料样品或复杂涂层的大面积表面的非破坏性均匀性分析。
Onyx涵盖了目前用于研究材料表征的宏观尺度方法（光学显微镜，直流电导率......）和纳米尺度方法（拉曼共聚焦光谱，AFM，TEM......）之间的差距。
该系统基于das-Nano专有的方法，通过单面（正反射）检测提供任何材料的整个区域的电导，电阻，折射率，厚度和介电参数。结果是提供沉积均匀性的图，并因此评估材料的整个区域生产的质量。
该技术将使研究界提高其工作的效率和功效，从而缩短最终产品和应用的上市时间。
此外，该技术可以在线实施，因此，在相同的评估方法中可以在未来的产品制造阶段中♀使用。
? 质量图
快速质量控制
全面的电导分析
单面测量
100％面积检查
? 独特的功︼能
超快速选项：12cm2 /min
高分辨率：50μm
自定义基质表征
全自动化
Onyx不断改进其功能，提供新的结果，大大增加其潜力。
仅在一次测试中，系统能够提供精确不同的物理特性。
