硅橡胶介电常数测定仪
一、满足标准:
GBT1409-2006测量电气绝@ 缘材料在工频、音频、高频(包括米波╲波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
ASTMD150/IEC60250固体电绝缘材料的(恒久电介█质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法
二、方法概述
介质损耗和介电≡常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有◢复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常ζ数(ε),可进一步了解影▽响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐●振点自动搜索,Q值量程卐自动转换,数值显示等新ζ技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下╳,测量高频电感或谐振※回路的Q值,电感器的电感量和分〇布电容量※,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介※质损耗,高频ξ回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。
硅橡胶介电常数测定仪
硅橡胶介电常数测定仪
三、主要用途:
主要用于测量非金属材料的介电常数(ε)和介质损耗(tanδ)
四、应用对象:
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位★对无机非金属新材料性能的应用研究。
六、电极规格
固体:材料测量♀直径Φ38mm可选;厚度可调≥15mm
液体:测量极片∏直径Φ38mm;液体杯内▂径Φ48mm、深7mm(选配)
粉体:测量极片⊙直径Φ38mm;液体杯内径Φ48mm、深7mm(选配)
试样要求:固体样品厚度要求:0.5-15MM
七、产品配置:
1、测试主机:一台
2、测试电感:9个
3、测试夹具:1套(标配固体测试夹具一套)
八、其它规格:
1、 环境温度:0℃~ 40℃;
2、相对湿度:<80%;
3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
4、消耗功率:约25W;
5、净重:约7kg;
6、外型尺寸:(长宽高):380×280×132(mm)
九:9个电感规格:
电感No | 电感量 | 准确度% | Q值≥ | 分布电容约略值 | 谐振频率范围MHz | 适合介电Ψ 常数测试频率 | |
GCSTD/A/AI | GCSTD-B | ||||||
1 | 0.1μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 20~70 | 31~103 | 50MHz |
2 | 0.5μH | ±0.05μH | 200 | 5pF | 10~37 | 14.8~46.6 | 15MHz |
3 | 2.5μH | ±5% | 200 | 5pF | 4.6~17.4 | 6.8~21.4 | 10MHz |
4 | 10μH | ±5% | 200 | 6pF | 2.3~8.6 | 3.4~10.55 | 5MHz |
5 | 50μH | ±5% | 200 | 6pF | 1~3.75 | 1.5~4.55 | 1.5MHz |
6 | 100μH | ±5% | 200 | 6pF | 0.75~2.64 | 1.06~3.20 | 1MHz |
7 | 1mH | ±5% | 150 | 8pF | 0.23~0.84 | 0.34~1.02 | 0.5MHz |
8 | 5mH | ±5% | 130 | 8pF | 0.1~0.33 | 0.148~0.39 | 0.25MHz |
9 | 10mH | ±5% | 90 | 8pF | 0.072~0.26 | 0.107~0.32 | 0.1MHz |
硅橡胶介电常数测定仪
五、技术指标:
功能名称: | GCSTD-A | GCSTD-AI | GCSTD-B |
信号↙源范围DDS数字合∑ 成信号 | 10KHZ-70MHz | 10KHZ-110MHz | 10KHZ-160MHz |
信号源频率覆◥盖比 | 7000:1 | 11000:1 | 16000:1 |
信号源频率ㄨ精度 6位有效数 | 3×10-5±1个字 | 3×10-5±1个字 | 3×10-5±1个字 |
Q测量范围 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 | 1-1000自动/手动量程 |
Q分辨率 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 | 4位有效数,分辨率0.1 |
Q测量工作误差 | <5% | <5% | <5% |
电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H,分辨率0.1nH | 1nH-8.4H 分辨率0.1nH | 1nH-140mH分辨率0.1nH |
电感测量误差 | <5% | <5% | <5% |
调谐电容 | 主电容30-540pF | 主电容30-540pF | 主电容17-240pF |
电容直接测量范围 | 1pF~2.5uF | 1pF~2.5uF | 1pF~25nF |
调谐电容误差 分辨率 | ±1pF或<1% 0.1pF | ±1pF或<1% 0.1pF | ±1pF或<1% 0.1pF |
谐振点搜索 | 自动扫描 | 自动扫描 | 自动扫描 |
Q合格预置范围∑ | 5-1000声光提示 | 5-1000声光提示 | 5-1000声光提示 |
Q量程切换 | 自动/手动 | 自动/手动 | 自动/手动 |
LCD显示参数 | F,L,C,Q,Lt,Ct波段等 | F,L,C,Q,Lt,Ct波段等 | F,L,C,Q,Lt,Ct波段等 |
自身残余电↘感和测试引线电感的 自动↓扣除功能(独创) | 有 | 有 | 有 |
大电容值♂直接测量显示功能(独创) | 测量△值可达2.5uF | 测量值可达2.5uF | 测量值可达25nF |
介质损耗系数 | 精度万分之五 | 精度万分之五 | 精度万分之五 |
备注说明:
三种不同型号的仪器,主要区别是频率不〓同,根据自己测㊣ 试频率,选择合适的型号
硅橡胶介电常数测定仪
冠测公司自主研发电性能专业检测仪器分类
序号 | 设备名称 | 设备型号 | 测试指标 | 备注 |
1 | 电压击穿试验仪◥ | DDJ10KV-150KV | 介电强度、泄漏电流 | 介电强度、泄漏电流 |
2 | 体积表面电阻测定仪 | GEST-121 | 体积电阻率、表面电阻率 | 体积电阻率、表面电阻率 |
3 | 高频介电常●数测试仪 | GCSTD-A | 介电常数、介质损耗 | 测试频率10KHZ-70MHZ |
4 | 高频介电常数测试仪 | GCSTD-B | 介电常数、介质损耗 | 测试频率10KHZ-160MHZ |
5 | 工频介电常数测试仪 | GCSTD-C | 介电常数、介质损耗 | 测试频率50HZ |
6 | 高低频介电常数测试仪★ | GCSTD-D | 介电常数、介质损耗 | 测试频率20HZ-5MHZ |
7 | 耐【电弧试验仪 | NDH-A | 耐电弧 | 微机控制、触摸屏控制 |
8 | 高压漏电起痕试验仪 | NLD-AI | 高压№等级测试 | 最高电压6KV |
9 | 耐电痕化指数测定仪 | NLD-B | CTI\PTI | 最高电压600V |
10 | 电线电缆耐电痕试验仪 | NLD-C | 漏电痕迹、电痕化 | 触摸屏 |
11 | 导体电↑阻率测定仪 | GEST-125 | 导体电阻率 | 触摸屏 |
12 | 半导体电¤阻率测定仪 | GEST-123 | 半导体电阻率 | 触摸屏 |
13 | 炭素材〓料电阻率测定仪 | GEST-122 | 电阻率 | 触摸屏 |
14 | 石油焦粉末电阻率测定仪 | GEST-124 | 电阻率 | 触摸屏 |
15 | 回路电阻测定仪 | HLD-100A | 回路电阻 | 数字 |
16 | 高温耐压试验@ 仪 | DDJT-10KV-150KV | 高温耐压 | 温度和电压范围可选 |
17 | 电阻温度特性测定仪 | GCWRT-II | 电阻温度特性 | 微机控制 |
18 | 介电︽温谱特性测定仪 | GCWP-A | 温谱、频谱 | 温度和频率范围可选 |