双电测数字式四＠探针测试仪双电测四探针检测Ψ 仪

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产品型号：XRS-2263/ST2263

适用范围：职教

所在地区：北京通州区

详细说明

双电测数字式四探针测试仪双电测四探针检测仪型号:XRS-2263/ST2263

概述
XRS-2263型双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测-改进形范德★堡测量方法测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的▂影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对●于微区的测试。
仪器成套々组成：由主机、选配的四探针探头、测试台以及PC软件等部分组成。
主机主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，USB通讯接口。仪器主机所有参数设定、功能转◥换全部采用数字化键盘和数码开关输入；具有零位、满度自校功能；测试功能可╲自动/手动方式；仪器操作可由配套软件在PC机上操作完成，也可脱PC机由四探针仪器面板上独立操作完成。测试结果数据由主机数码管直接显示，也可连机由软件界面同步显示、分析、保存和◢打印！
探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化※钨探针探头，以测试硅ζ类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可♂测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具』，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接↙触电阻进行测量。
测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配HAD-A或HAD-B或HAD-C或HAD-F型测试台。
详见《四探针仪器、探头和测试「台的特点与选型参考》
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。
仪器适用㊣　于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
三、基本参数
3.1 测量范围
电阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方阻：5×10-4～1×106 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
电阻：1×10-5～2×105 Ω ，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由选配测试台决定和测试方式决╲定)
直径：HAD-A圆测试台直接☉测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HAD-B/C/F方测试台直接测试方∞式180mm×180mm，手持方式不限.
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可

量程划分及误差等级

满度显示	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00	2.000	200.0	20.00
常规量程	kΩ-cm/□	kΩ-cm/□		Ω-cm/□			mΩ-cm/□
基本误差	±2%FSB ±4LSB	±1.5%FSB ±4LSB	±0.5%FSB±2LSB				±1.0%FSB ±4LSB

四探针探头（选配其一或加配全部）
(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力: 0～2kg 可调
(2)薄膜▓方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力: 0～0.6kg 可调
3.6 电源
输入: AC 220V±10% ,50Hz 功耗：<20W
3.7 外形尺寸：
主机 220mm（长）×245 mm（宽）×100mm（高）

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双电测数字式四探针测试仪双电测四探针检测』仪

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