KDM-100A是参照德国din标准DIN50448:“Determination of the resistivity of using a capacitor semi-insulating semiconductors利用电「容测定半绝缘半导体的电阻率”设计的半绝缘半导体电阻率测试仪，并取得了中华人民共和国知识产权局专利。半绝缘半导体有着广阔的应用前景，在能源、国防安全、新一♀代信息技术和人类生活等各个方面产生巨大的影【响。半绝缘半导体电阻率在106～109Ω·cm，传统的四探针法已经无法测量。非接触的测量方法，无需切割样品和制备电极，因此测量迅速便捷，有利于第2，3代半导体的生产和研究，也可以使学生通过实验以全新的理念和途径测量半绝缘半导体的♂电阻率。
性能指标：
样品台：100mm×100mm
测量方式：单点测量或通过X-Y轴手动■滑台进行多点测量
X-Y轴重复定位精度：20µm
X-Y轴移动速度：最大每秒40mm
最大扫描点数：1024×1024
探头高度调整：手动调整
探头手动调节精度：1µm
遮光罩：测试区域配置遮光罩
可测电阻率范围：1×106～109Ω·cm（可扩展）
探针直径：1mm或2mm
重复性（同一测◎试点）：1×106～109Ω·cm以内＜5%
读数方式：配置工控机及测试软件系统，自动采集数据并计算、保存测〗试结果，可导出测试⊙数据
操作系统：支持win7
可测样片直径：10mm～100mm
可测样☉片厚度：250µm～5000µm
样片表面：锯面、腐蚀面或抛光面♀，粗糙度小于10µm
样品厚度：总厚度变ㄨ化＜25µm
