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                半导体器件动态参数测试系统

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                EN-2020A
                高教
                陕西 西安 雁塔区
                详细说明

                半导体器件动态参数测试系统

                EN-2020A半导体器件动态参数测试系统

                系统概述

                基础规格

                IGBT是广泛应用于现代中、大功率变换器中的主流半导体开关器件,其开关特性决定装置的开关损耗、功率密度、器件应力以△及电磁兼容性,直接影响变换器的性能。因此准确测量功率开关元件的开关性能具有极其重要的实︽际意义。

                EN-2020A半导体器件动态参数测试系统,该系统是针对IGBT器件的开关性特性及IGBT内部续流二极管的反向恢复特性而专门设计的一套全自动测试系统,适用于电流不超过1500A和集∮电极电压不超过3500V的IGBT器件开关时间测试以及正向电流不超过2000A的二极管反向恢复特性的≡测试。

                :1800×800×800(mm)

                :155Kg

                环境温度:15~40℃

                相对湿度:小于80%

                大气压力:86Kpa~ 106Kpa

                电网电压:AC220V±10%无严♀重谐波

                电网频率:50Hz±1Hz

                系统单元

                开通时间测试单〓元

                关断时间测试单元

                二极管反向恢复测试←单元

                该系统∴通过电容充放电原理产生电流波形,测试时根据不同的测试条件,设定测⊙试电压,再通过调节不同的╱电感值或选择不同的测试脉冲宽度来输出测试要求的电流值,测试的电压和电流波形同时被采集到示波器,并由示〒波器与工控机直接通讯,将采集数据传输给计算机,计算机经过处理计算后,将测@ 试数据以表格形式显示并可进行编辑和打印。

                计算机控制单元

                PLC控制单元

                自动恒温气动压力夹具

                该单元是设备的中心控◆制单元,设备有一部分的工作程序、工作时序、开关的动作状态,数据采集等均由计↘算机完成。采用研华工控机,具有抗电磁干扰能力强,排风量大等◆特点。在计▲算机中,装有美国国家仪器公司生产的数据采集卡1块,泰▃克公司的DPO3014型示波器1台。测试过程】中,计算机与示波器通讯,控制示波器的工作状态,并将示波器的测试数据采集到计算々机,计算机对数据进行处理与计算、并进行最终的显示与编辑。

                本测试台除了采用工控机控制外,还采用了欧姆龙系列的PLC对系统进行控制,PLC主要对设备的工作时序、开关动作等进行控制,并且与计算机进行通讯,完成了整个系统的自动控制功能;PLC不仅控︼制开关的动作,而且对系统中主要开关的工作状态进行实时监控,并与硬件进行互锁,实现了∩可靠的安全控制功能。

                该单元采用5000PA的空气压缩机供◣气,20个探针的接触矩阵,液压升降柱,自动升降门。可安全轻松的完成ζ器件/模块的测试接触。

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