塞贝克系数/电阻测量系统ZEM
——定量测量热电材料的塞贝克系数和电阻
产品介绍：
塞贝克系数/电阻测量系统可实现对金属或半导体材料的热电性能的评估。作为ZEM的特点，塞贝克系数和电阻都可以用一种仪器来测量。
产品特点：
■ 拥有温度精确控制的红外金面加热炉和控制温差的微型加热器;
■ 测量是由计算机控制的，并且能够在指定的温度下执行测量，并允许自动测量消⊙除背底电动势;
■ 欧姆接触自动检测功能(V-I图);
■ 可以用适配器来测量薄膜;
■ 可定制高阻型。
产品结构：
样品腔部分：
工作◣原理图：
应用方向：
对于ぷ半导体，陶瓷材料，金属材料等多种材料的热电性能分析。
可选功能：
1. 薄膜测量选件
2.低温选件(温度范围-100℃到200℃)
3.高阻选件(最高到10MΩ;)
参数配置：
型号 | ZEM-3M8 | ZEM-3M10 |
温度范围 | 50-800℃ | 50-1000℃ |
样品大小 | 方形2-4mm*6-22mmL 或者 圆形Φ2-4mm*6-22mmL | |
加热方式 | 红外加热 | |
气氛 | 高纯氦气（99.999%） | |
样品温差 | MAX.50℃ | |
测量方式 | 电脑全自动测量 | |
附：
热电材料/器件测试设备
热电材料测试设备 | 热电转换效率测试⌒ 设备 |
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测试数据
烧结P型Si80Ge20塞贝克系数及电阻率测量结果
发表文章
1. Y. Wang et al. / Adv. Energy Mater. 2020, 2001945
2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407
3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114
4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810
5. L. Zhao et al. / Adv. Energy Mater. 2019, 9, 1901334.
用户单位
清华大学
中□ 国科学技术大学
上海交通大学
复旦大学
南△方科技大学
武汉理工大学
中国科学院上海硅酸盐研究所
中国科学院大连化学物◎理研究所
