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北京西润斯仪器仪表有限公司
XRS-SC-E
详细说明
1、用途：用于各种类大米（精米、糙米、糯米等）各项外观品质指标的自动检＠测，可进行多参数、批量化的自动分析。
2、系统组成：双光源扫描成像仪及附件、分析软件和电脑（电脑另配）。
3、主要性能指标：
★配光学分♀辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像（中晶ScanMaker i800 Plus）。透扫幅面30 cm×20 cm，最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
★可自动一次性测量分析30g以上大米样品的：垩白度/率、碎米㊣率及小碎米率、整精米数量、整精米率、大米透明度、黄粒米、杂质量、异品种粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的阴米率、病斑或黄变∑ 率。还可自动分析大米的碾米精度、裂纹率，以及糙☆米胚芽率。
自动测量每▼粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.05mm，长宽〖比测量误差≤±0.05，重→现性误差≤±0.02；整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现★性误差≤±0.25%）。可大批量自动分『析处理与输出结果。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米、农业部新标○准【大米】NY/T2334-2013等标准相对应，检测各项指标的重量比和粒数比。各分析图像、分布图、结∏果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出◤分析标记图。
★具有自动学习与识别特性，可自动分●割粘连的大米▆、种粒，可做自动分类分析。
★具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口ㄨ。可兼测〒的种粒直径范围0.3-20mm（最厚15 mm），自动测量精度≥99%，交互修正后准确率ξ 达。
注：本标书中打★款项响应，否则为重大偏离
选配电脑推荐：联想一体机◇（双核CPU /2G内存/512M独立显卡/500G硬盘/ 20”彩显/DVD-RM /无线网卡）。
