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瑞宇
s-SNOM
详细说明
s-SNOM技术使用金属镀层的原子力（AFM）探针针尖代替传统光纤探针来增强样品的纳米尺度区域的散射，散射信号可以在远场被检测到。而这些散射信号携带了样品在金属探针针尖下纳米级区域的复杂光学性质。具体而言，这些散射光的信息包括光的振幅和相位，通过适当的模型，这些测量可以估算出针尖下样品纳米尺度区域材料的光学常数（n，k）。在某些情况下，光学相位与波长还提供了一个与同种材料常规吸收光谱近似的光谱信息。
瑞宇科技的散射式近场光学显微镜建立在基于具有领先地位的纳米光学表征工具原子力显卐微镜AFM的基础之上。s-SNOM设计具有无与伦比的性能，高度集成，全面自动◥化，使用灵活，为研究生产力和易用性设定了新的标准。
瑞宇科技的散射式近场光学显微镜特别适用于硬质材料，特别是具有高反射率、高介电常数或强光学共振的材料。它与瑞宇科技的
纳米红外光谱成像显微镜（NanoIR）配合使用，可以完成对所有物质纳米尺度的化学性质分析及探索。
瑞宇科技的散射式近场光学显微镜的分辨率仅由AFM针尖的曲率半径决定，与入射光源的波长无关，能够在可见、红外和太赫兹光谱范围内，提供最佳10nm空间分辨率◤的光谱和近场光学图像。
产品特点：
? 10nm空间分辨率★近场成像和光谱；
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? 专利的快速成像和采谱技术，10倍于传统的空间光谱成像；
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? 专利背景压制技术和高效光学信号收集技术，确保在10nm空间分辨率下仍然保持极高的信噪比；
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? 预先校准光路，操作极其简便；
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? 模块化设计，可拓展性强；
应用：
由于瑞宇科技的散射式近场光学显微镜和光谱谱图的可靠性和可重复性，s-SNOM业已成为纳米光学领域热点研究方向的首选科研设备，广泛适用于各种无机物和有机物，如表面等离子体、纳米天线、2D材料（石墨烯，BN），纳米结构，半导体，绝缘体，生命科学，高分子材料等，在等离基元、纳米FTIR和太赫兹等众多研究方向得到许多重要科研成果。
