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SEIFERT
SEIFERT XRD Space Universal 通用型射线衍射分析仪
详细说明
· 大检测范围，大角度范围，高精度检测
· 粉末、织构、应力和残余奥氏体分析
· 可选工件转换装置和外部预定位系统
· 快速实时检测，包括1D和2D检测
· 可选掠入式射束、反射计、薄膜分析、反分辨率模式，等
· 可选针对高分辨率分析的显微镜镜头和用于显微衍射分析的光学组件
德国SEIFERT Analytical X-ray可根据用户的应用和要求，提供定制化的系统配置。
恩迪检测控制
