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SEIFERT
SEIFERT XRD Galaxy
详细说明
单色光扫描系统和固定式多色光劳厄分析系统，用于单晶材料、硅圆、晶锭、涡轮叶片和太阳能光板等的定向分析和检测，可集成到产线和质量控制流程。
· XRD Galaxy SCL
采用固定式劳厄分析方法，用于确定硅圆、晶锭、涡轮叶片的取向，可进行点分析或者表面扫描检测，通过显微镜镜头和激光进行样品调整
· XRD Galaxy SCD
采用衍射的方法扫描分析样品的取向，可用于确定硅圆、晶锭、涡轮叶片的取向，可进行点分析或者表面扫描检测，通过显微镜镜头和激光进行样品调整
德国SEIFERT Analytical X-ray可根据用户的应用和要求，提供定制化的系统配置。
恩迪检测控制
