瑞典XCounter-x射线双能探测器
产品描述X 系列
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式，扫描速度最高90mm/s。
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X系列产品的先进之处，在双能采集过程中，收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进，可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列「的内部自动控制，整个扫描过程是透明可见的。
集成
XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Windows XP、Vista、 Windows7和Windows8系统平台
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*自扫描设计，透明可见
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*扫描速度最高90mm/s
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
技术参数单
基本参数
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物理参数 |
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尺寸 （L×W×H） |
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XC-FLITE X1：32.9×22.0×5.5cm |
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温度控制 |
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内部的珀尔帖效应温度控制 |
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环境温度 |
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+10 - +40℃ |
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储藏温度 |
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-10-+60℃ @ 10% - 95% 湿度 |
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射线窗 |
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碳纤维， 厚500μm |
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射线屏蔽 |
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根据应用 |
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传感器 |
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传感器数量 |
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X1：1 X2：2 X3：3 |
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传感器类Ψ 型 |
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双能光子计数 CdTe-CMOS |
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传感器厚度 |
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0.75mm-2.0mm CdTe |
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有效面积 |
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X1：154.7×12.8mm(1536×128像素) |
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像素 |
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100μm |
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像素填⊙充率 |
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100% |
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性能 |
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最大扫描速度 |
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X1：90 mm/s X2 & X3：255 mm/s |
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帧率 |
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最高1000 fps （也可选择时间延迟总和模式） |
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动态范围 |
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12 bits |
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图像面元 |
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1×1，2×2， 4×4 |
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成像时间 |
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100μs-5s |
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DQE（0） |
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85%@RQA5 spectra |
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MTF |
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＞80% @ 2lp/mm |
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管KV范围 |
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15-250kVp |
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内部测试图样 |
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Pseudo-random debug pattern |
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外部触发输出 |
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3.3V TTL |
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输入 |
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5V |
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滞后 |
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0% |
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拖影 |
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＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy） |
