瑞典XCounter -x射线双能探测器
型号；PDT25-DE
产品描述：
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。
PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE先进之处，在双能采集过程中，探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值，并分别读出，两个能量设置可以用来区分材料，为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术，可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上，以获取更高的能量分辨率。
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带」灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像
*工业检测（NDT）
特点和优势
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*绑定强大的可编程的开发软件
技术参数
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物理参数 |
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尺寸 （L×W×H） |
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94×54×20mm |
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重量 |
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150g（235g 带钨防护） |
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温度控制 |
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内部的珀尔帖效应温度控制 |
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环境温度 |
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+15 - +45℃ |
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储藏温度 |
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-10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度 |
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最大消耗功率 |
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10W |
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射线窗 |
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碳纤维， 厚250μm |
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射线屏蔽 |
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根据应用 |
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传感器 |
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传感器类型 |
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双能光子计数 CdTe-CMOS |
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传感器厚度 |
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0.75mm-2.0mm CdTe |
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有效面积 |
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25.6×25.6 mm2 |
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像素 |
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100μm |
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像素填充※率 |
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100% |
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性能 |
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帧率 |
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最高35fps |
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动态范围 |
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12 bits |
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成像时间 |
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100μs-5s （通过软件，可以设置更长时间） |
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DQE（0） |
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85%@RQA5 spectra |
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MTF |
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＞80% @ 2lp/mm |
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管KV范围 |
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15-140 kVp |
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内部测试图样 |
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Pseudo-random debug pattern |
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外部触发输出 |
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3-3 V TTL |
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输入 |
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3-15V |
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滞后 |
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0% |
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拖影 |
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＜0.1% X射线开■启后1分钟（12μGy） |
分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）
