2015年，美国ASD公司（现隶属于荷Ψ兰帕纳科）推出FieldSpec 4地物光谱仪Hi-Res NG，将光谱分辨率提升至6nm，这进一步提高了下一代高光谱成像传感器的分析精度，是地物光谱仪器的一】次重要变革。
更高分辨率的高光谱仪器可以协助用户提「高遥感分类应用的精度，识别〖更多之前无法从高光谱图像中获取的点像元信息。为了◣充分发挥下一代传感器的潜能，那么基于地面测量的光谱仪器必须满足或者■超越成像传感器的光谱分辨率，如果分辨率达不到高光谱成像的要求，那么数据〖在后处理过程中会因插值而丢失重要的光谱信息。
FieldSpec 4 Hi-Res NG 地物光谱仪大大提升了光谱分辨率，正是为了满足下一代高光谱成像系统（如：AVRIS-NG、HySpex ODIN-1024）的严格要求而设计。除了优越的光谱分辨率，像所有ASD地物光谱仪一样，FieldSpec 4 Hi-Res NG采用InGaAs SWIR检测器，在350nm到2500nm的全光谱范围进行1875波段（编码通道）的检测，从而提供最小的采样→间隔（采样带宽），确保可以检出样品最细微的光【谱特征。
优点：
完全为野外遥感设计
在太阳作为光源的情况下，同时拥有更高光谱分辨率和更低等效辐射※噪声
光纤『与主机严格固定，一体定标，可溯源到美国NIST
外形美观，坚固耐用，人体▆工学设计，使用体验舒适方便
海量应用文献，数▓据库完备，无缝兼容ENVI、TSG等更多的第三方工具软件
性能指标
波长范围 | 350-2500 nm |
光谱分辨率 | 3 nm @ 700 nm 6 nm @ 1400/2100 nm |
采样间隔 | 1.4 nm @ 350-1000 nm 1.1 nm @ 1001-2500 nm |
扫描时间 | 100 ms |
杂散光 | VNIR 0.02%, SWIR 1 & 2 0.01% |
波长重复性 | 0.1 nm |
波长准确ω 度 | 0.5 nm |
最大辐射 | VNIR 2 倍太阳光, SWIR 10 倍太阳光 |
通道数 | 2151 |
检测器 | VNIR 检测器 (350-1000 nm): 512 像元硅阵列传感器 SWIR 1 检测器 (1001-1800 nm): SWIR 2 检测器 (1801-2500 nm): InGaAs 检测器, TE 制冷 |
输入 | 1.5 m 光纤(25° 视场). 可选前置镜头改变视场角 |
等效噪声辐射（外接光纤） | VNIR 1.0 X10-9 W/cm2/nm/sr @700 nm SWIR 1 8.0 X10 -9W/cm2/nm/sr @ 1400 nmSWIR 2 8.0 X10 -9W/cm2/nm/sr @ 2100 nm |
重量 | 5.44 kg |
校准 | 波长, 绝对反射率, 辐射度*, 福照度*.所有的校准可NIST溯源. (*辐射定◎标可选) |
电脑 | Windows® |
保修 | 一年整机保修（包含专家支持） |
制造商：英国ASD
