X射线质量控系统
X射线质量控系统 产品编号：SY00479
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X射线质量控系统适用于评价各种X 线机，包括：CT机，拍片机，透视机，脉冲透视，便携X-线机等。
可一次曝光测量数据包括kVp、PPV、剂量、剂量率、曝光时间、HVL、总滤过。
X射线质量控系统随机提供免费数据储存①及分析软件，可定制用户报告。
X射线质量控系统具有外置双通道探测器接口，可同时附加第二通道剂量探测器。
数据传输应用直接有线连接，高速数据传输技术。可真正做到0.1ms探测技术。
可实时显示剂量及kVp波形，方便分析。波形图最小分辨时间为0.1毫秒。
X射线质量控系统的量程及精度：
千伏：40-155 kV / ±2%
剂量：100nGy-9999mGy / ±5%
剂量率：0.1μGy/s-120mGy/s / ±5% 或±0.02μGy/s
曝光时间：0.2ms-999.9s
快速半值层：1.3-10mmAl / ±10%或0.2mm
总滤过：1.5-30 mm Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)
乳腺机量程及精度
千伏：20-49 kV / ±1.5% 或 0.7 kV
剂量：0.2μGy-9999mGy
剂量率：0.4μGy/s-700mGy/s
曝光时间：0.2ms-999.9s
快速半值层：0.2-1.2 mm Al根据射线质量/ ±5%
总滤过：1.5-30 mm Al / ±10% 或 ±0.3mm (60-120kV.HF/DC)
CT机部分的量程及精度：
测量后，分析软件可自动出具报告CTDI值
X射线质量控系统 产品编号：SY00479
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