ContourGT系列结合先进的♂64位多核操作和分析处理软件，专利技术白光干涉仪（WLI）硬件和前所未有的操作简易性，推出历年来来最先进的3D光学表面轮廓仪系统。第十代光学表面轮廓仪拥有超大视野内埃级至毫米级的垂直计▓量范围，样品安装灵活，且具有业界最高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研究和质∮量控制应用中，最广泛使用和最直观的3D表面计量平台。
业界最高的垂直分辨率，最强大的测量性能
新的软件设计使数据处理速度提ξ高几十倍。
多核〓处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍。
无以伦比的无缝拼接能力，可以把成千上万个数据拼接成一张连续的完美图ζ 像
测量硬件的独特设计增强生产环境中的可靠性和重复性
优化的用户界面大Ψ大简化测量和数据分析々过程，从而提高仪器和操作者◇效率
独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项
用户可自行设置▓数据输出的界面
三十☉年技术创新，迎来第十代全新产品
我们的干涉仪是世界上第一个包含了著名的垂直扫描干涉技术（VSI模式），扫描※头倾斜调整，专利※的自动校准和双LED照明等革新技术。
ContourGT系列既▅结合了这些已被证实的设计功能，又在硬件上进行了大量的▓改进，从而给用户提供了目前世界上最精确的、重复性最好的光学轮廓仪性能。 Bruker的光学轮廓仪具有已被╲证实的，将近三十年的优越性能运行①跟踪记录，从研究型实验室到生产型工厂的上万台安装记录。
ContourGT-X光学轮廓仪配备有一体式的气动平台和双层金属ω 铸件，此两种设计都是为了隔离震动以避免干扰测量效果，从而获』得快速、精确的、可通过GRR测试的测量结果。
OMM结合了Bruker专利的双LED照明光○源技术，在任何样品任意放大倍数下均可提供卓越的照明强度和均匀性。OMM还︾能在整个10mm测量ζ 量程内提供无以伦比的准确性和可重复性。马达驱动的多放大倍率检测器可包含最大三个视场』目镜∏，以最大化放大倍率的灵活性和稳定性。
ContourGT系列可选择型号中，具有包含Bruker专利技术的内置一级标准自校⊙准功能的能力，使得闭环扫描的性能◤最大化。此模块包含一个参【考信号，在仪器启动时对系统进行自校准，然后连续监控并校正每次测量，以保证绝对的精确度△和卓越的重复性。
Bruker的倾斜调「整支架设计可使得OMM倾斜，而不是样品倾斜。这样，被测量的样品将总处于聚焦位置，并且在测量的视野中，确保了操作№的一致性和简易性。
*这些选项仅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型号上具有。
在ContourGT-X型号中具有全自动的【8英寸或12英寸样品台╲。两种样品台均配备有0.5um重复性的编码器。ContourGT-K1型具有可选的6英寸马达驱动样品↑台。还可选配具№有Z方向聚焦旋钮的XY操纵杆。
选配的马达驱动塔台可安装最多4个干涉◆物镜，从1倍至100倍。塔台设计确保了当您切换物镜时，您的测试点始终处于聚焦和中心位置。
在防震台的后面配备有一个LED光源以帮助样品聚焦和确保操作可观度。
辅助︾操作灯泡*
塔台
自动样品台
倾斜调整支架*
自校准功能*
光学卐计量模块(OMM)
卓越的震动隔离性能*
