光的收集和实时分析
OPTIScope-SA看上去就像一个便携的摄像机，但是它包括了进行实时亮度测定所需要要的所有硬件，根据VESA标准，一个目标物的图像收集了在角度差为±1°范围内的所有光线。通过一个彩色CMOS传感器获得目标物的图形。部分光线经过一个图形顶部过滤器并在光电倍增管中传播，系统也可以进行绝对亮度的测定，是由于其装备了一种可以参照光电二极管进行光电倍增管校准的装置。OPTIScope-SA可以用于各种距离的测定，最低可至30厘米。

易操作
OPTIScope-SA可以方便的使用软件进行测量和ω调节，使用标准〗信号发生器或者是ELDIM 研制的 FPDLite 或者是FPDDrive 方法可以方便的进行
各种型号显示器的测试。

高灵敏度
OPTIScope-SA包括一》个高灵敏度的光电倍增管，在极低的光线水平下仍具有较高的灵敏度，亮度低0.0001Cd/m2仍可以轻松的测定。

完全自动校准
系统包括了一个尽可能靠近红外光波曲线的过滤器，光电倍增管的自动校准可以用在系统中包】含有的LED光源。所有这些特点使得我们的产品在很低的光线水平下仍具有极其优秀的灵敏度和可☉再现性等。OPTIScope-Lite是OPTIScope-SA最基◤本的一个版本，它包括相同的光电检测，但没Ψ有自动校准和CMOS摄像机，只能用于闪烁源检测和相应时间检测。

信号分析和响应周期
OPTIScope对于响应时间的分析和测定具有完整而又精密的处理方法。应用了VESA的生产标ㄨ准，还有禁带过滤器等。响应时间补偿也变的可行。具有不同数字模式的直接□　衰退可以用来提取更精确的响应时间值，以及其他同实◣时因素有关系的特性（迟缓、过载等）。专门的运算规则也可以适应于特别的信号，具有黑色不确定●因素的显示器可以通过包覆过滤进行分析。
通过实测纵断面的理论特性的直接衰退，可以得到很多有用的信息。通过一个直接的错误评估可以更精确的决定响应时间√。有更多的影响因素可以分析出来，比如：过载、宽频超载、过载时时间延迟的特殊应用等，另外一些固有的影响因素也可以重新处理。

亮度、G曲线和闪◥烁
响应时间的测量通常是在一个灰度与另一个灰度之间进行测量。完整的分析可▼以在从0到255灰度之间的某一灰度进行测量（例如16）。尽管如
此，观看者并不关心灰度值，更多的是关系在这个灰度条件下的显示器㊣的亮度值。相比于灰度值，采用亮度值来进行响应时间的分析无疑更为
有效。

自我校准
OPTIScope-SA系统具有一个同光电倍增管相适】应的光峰过滤器，并且有一个自我校准的部件，允许光电倍增管直接对光的亮度进行测试。在进
行亮度测量前⊙，光电倍增管的自我校准要同信号相适应，并且同时可用光电二极管进行测量。

极高的灵敏度
OPTIScope系统包含有一个最敏感的光电倍增管，是目前市场上面最先进的光电倍增管。可以测量低至0.0001Cd/m2的光亮度。

闪烁测量
可测由电脑驱动的LED发出的低至-80dB水平◣的闪烁值