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                电磁↓式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLE-200J

                电磁式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLE-200J
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                WBLE-200J
                北京
                详细说明

                电磁式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLE-200J 货号:ZH6918
                产品简介
                 本仪器采用了磁性测厚方法,可的测量磁性金属ㄨ基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上〗非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、水分测定仪 橡胶、油漆等)。 内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。
                测定方法:电磁式 二氧化碳测定仪
                测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层
                测定范围:0~1500um或0~60.0mils
                测定精度:<15um±0.3um   >15um±2%
                分辨率:<100um 0.1um    >100um 1um
                界限设定:可设定上/下限数值
                测试单位:公/英制互换
                显示方式:LCD数显
                操作面板:密封防水按键
                附属品:铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
                电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个
                体积:80(W)×80(D)×30(H)
                重量:1100g
                www.centrwin.com
                电磁式薄膜测厚仪/膜厚计 日本 型号:WBLE-200J

                 

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