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JZ-102E型探针测试台与测试仪器配接后可用于集成电路芯片及各种晶体管芯的电参数测试及功能调试，适用于科研、新品试制及小批量生产的中间测试。
技 术 指 标 ：
粗调范围：360°；微调范围：±10°；最小刻划：1°； 铜盘直径：Φ85mm；绝□缘盘直径：Φ102mm
标准配置：主工作台、显微镜、USB接口CCD摄像头、三维微调座2个、探针臂2支、探针2支。 可选配件：三维微调架、探针臂、探针、真空泵。
可按用户的实际需求进行订做。
