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                150激光平●面干涉仪

                150激光平面干涉仪
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                详细说明

                150激光平面干涉仪

                详细介绍

                QY-P-150M型㊣平面干涉仪:专为计量级测试的需求设计,适用于计量机构检定和校准光学平晶。其集高性能、长寿命氦氖激光器,1-6.7倍图像放大功能,高精度的成像系统和图像采集系统,精密平面标准镜等一系列高精技术,通过优化光学系统和机械系统结构,实现高精密平面光学元件的测量。选配静态干涉条纹分析软件,实现数☆字化测量。
                QY-P-150S为QY-P-150M:的简化版本,适合光学车间的现场检验。
                主要用途:平面类光学元件(包括玻璃、金属、陶瓷等)表面面形、光学平行度和材料均匀性的测试;准直系统波前质量的测试。
                仪器∞规格参数表
                产品型号 QY-P-150M QY-P-150S
                有效通光口径 152.4mm(6英寸)
                测量方式 菲索干涉原ζ 理
                光源 氦氖激光(632.8nm) 半导体激光器(635nm)
                连续变焦倍数 1-6.7倍 固定倍率
                光路切换 对准(十字叉丝)与测试(干涉场)模式电○控切换
                显示方式 计算机或独立监视器实时显示 监视器实时显示
                平面透过标准镜 PV:优于λ/20,可定制更高精度标准镜
                平面反射标准镜∏ 标配 选配
                衰减过滤片 标配 选配
                仪器尺寸(长X宽X高) 500X500X1070mm
                仪器重量 80KG
                电源 AC100-240V 50/60Hz
                (附注:更大口径平面干涉仪可依据客户需求定制▆)

                仪器特点

                ◇精度高:标准镜精度高,且材料经过精密╲退火处理,稳定可靠;

                ◇调整方便:可通过切换开关选择对准与干涉场两种显示模式,方便调整;

                ◇条纹真实:优良的№光学设计,精密的系统装保证得到清晰、准确、真实卐的干涉条纹;

                ◇性能优良:仪器具备良好的隔振性能,适合光学※加工现场使用;

                ◇配件丰富:标配密封罩,可将测试腔与外界气流隔↑离,降低测试过程中气流扰动,提高判断的准确性。配合衰减过滤片,可以测量镀高反膜元件。

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