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                晶体磁光-塞曼效应综合试验仪

                晶体磁光-塞曼效应综合试验仪
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                详细说明
                 

                一、       仪器配置与技术参数

                一、实验目的

                1、观察法拉第磁光效应的物理现象。

                2、采用消光法确定样品的法拉第旋光角,研究样品的θ~B关系。

                3、计算样品的维尔德常数。

                4、学习法∴布里一波罗标准具的使用方法;

                5、观测汞原子546.1nm光谱线在磁场中分裂情况及其偏振特点;

                6、测定电子的荷质比;

                二、仪器配置与技术参数

                1.电磁铁:最大磁感应强度1.3T,可连续调节,磁路材料为电工纯铁,磁路通光孔径φ6mm,磁极间距≥8mm。

                2.笔形汞灯:灯管直径6.5mm;

                3.F-P标准具:平面度优于λ/100,节圈间距5mm,空气间隔,可调节;

                4.特斯拉计:测量范围0—2T,分辨率0.0001T;

                5.干涉滤光片:中心波长546.1nm;

                6.测微目镜:分辨率0.01mm,测量范围8mm;

                7.半导体激光器:波长635nm,功率5mW;

                8.磁光样品:铅玻璃,φ6mm,L=7.5mm。    

                9.起偏器:产生】直线偏振光,透振方向具有50Hz小角度摆幅。

                10.测角仪:具有刻度值的检偏器,360°的刻度值,附有精度1′的游标。

                11.光电接收:接〓收透过检偏器的光强。

                12.精密光学支架:支撑F—P标准具、激光器、起偏器、测角仪、光电接收管等元器件。

                三、实验装置图

                晶体磁光-塞曼效应综合试验仪

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