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                组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

                组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列
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                OmniPL系列
                北京
                详细说明
                组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列




                组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列
                典型应用于LED 发光材料、半导体材料的研究。

                OmniPL 系列♀稳态荧光光谱测量系统采用模块化设计,在满足PL 光谱测量的同时,用户可以根据不同的实验需求,选择不同的配件,灵活的进行系统功能的扩展。

                组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

                系统组成:激发光源+ 样品室+荧光光谱仪+数据采集及处理系统+软件+计算机
                组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列
                组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

                OmniPL-LF325型稳态光致发光光谱系统主要技术参数
                ● 激发光源:HeCd激光器
                ● 激发光功率:20mW
                ● 激发波长:325nm
                ● 瑞利散射截止滤光片,OD>6
                ● 荧光光谱仪光∞谱范围:300-850nm(可扩展至2500nm)
                ● 荧光光谱分辨率:优于0.2nm(@1200g/mm光栅)
                ● 波长准确度:±0.2nm
                ● 波长重复性:±0.1nm
                ● 光探测器:科研级制冷型背感光CCD,300-1000nm
                ● 可选◣配闭循环超低温制冷机,最低温度可达2K
                ● 系统扩展性:系统采用模块化设计,可扩⌒展至近红外波段光谱测量
                ● 软件提供灵活的实验运行步骤自定义功能,可随时储存和提取√图谱,并能够进行复杂的光谱处理及光谱数据间的四则运算系统结构图PL图谱

                组合式荧光光谱测量系统-OmniPL系列

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