UHV PAN式低温扫描探针显微镜系统
| Pan式低温扫描探针显微镜析系统是由美国RHK Technology公司制造的，主要特点→包括： - PAN STM/AFM扫描头体积小（2.96”X1.55”) - 集成了样品X-Y-Z方向的大范围移动（5mmX5mmX10mm） - 工作温度◇包括了低温300mK、RT、VT和HT多种范围 - 内置弹簧和涡流阻尼减震系统，原位针尖与样品更换 - 兼容多种Flow式或Bath式低温☉恒温器与磁体 - 与RHK新全数字R9控制器↓一同使用 适用于拓扑绝缘体、低温超导、表面结构、电学测量等表面科学研究中。 |
主要技术参数〗: - 工作模式：STM与非接触式AFM - 温度范围：<300mK; RT; VT; HT - X-Y-Z位移范围：5mmX5mmX10mm | - 扫描范围：5umX5um （RT） - 样品尺寸：10mmX10mm - 扫描头尺寸：40mmX70mm |
结构紧凑，体积小： 内置减震¤系统、可水平或垂直放⌒ 置 Pan式低温扫描探针显微镜结构其紧凑，核心部分尺寸在~40X70mm左右；内置有弹簧和涡流■阻尼减震系统；根据用户的要求，可以提供水平放置配置和垂直放置配置两种；初次之外，它兼容常用的低温』恒温器和磁体，并提供相应的集成方案。 |
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原位样品与〗探针更换：
操做简单、快速；性能可靠
在低温和超高真空环境中，样品和针尖的原位更换一直是ぷ使用者非♂常关心的问题。为此，RHK公司为Pan式低温扫描探针显微镜开放了一套性能可靠、操作简单快速的原位样品与针尖更换装置，并提供了多个样品与针尖的→放置室。
Pan式低温扫描探针显微镜中使∩用的样品架灵活多样，可充分满足各种实验要求，如原位加】热、样品剥离、样品轰击等☆等；同时，它还兼容其他的商业化扫描探针显微镜中所配『备的样品架。
兼容各种磁体和恒温器
为充分满足科◥学家的要求，RHK与磁体和恒温器制造商紧密合作，开发了低温扫描探针显微镜整机系统和立扫描头模块系统，根据用∑户的特殊要求提供了一整套的解决方案。
RHK公司将上先进的□全数字扫描探针显微镜控制器R9集成到Pan式扫︻描探针显微镜中，集中研发力量，推出了噪音低的R9扫描控制系∮统和IVP-R9前置放大器。
应用案例：
Si(111)表面7X7重构，4K |
Bi2Se3表面形貌，4K |
