低温强磁场原子力/磁力/扫描霍尔显微镜-attoAFM/attoMFM/attoSHPM
纳米尺度下的磁学图像对于研究磁性材料和超导样品是非常重要的，利用attocube公司attoAFM/attoMFM/atoSHPM系统，科学家可以在无以伦比的空间分辨率（20nm）和磁场敏感性下分析样品磁性，工作温度从极低温、强磁场到室温。
attoAFM/attoMFM/attoSHPM采用模块化的设计。利用标配↓的控制器和样品扫描台，用户仅需要更换扫描头和对应的光学部件即可实ㄨ现不同功能之间的切换。
■ 低温强磁场磁力显微镜 - attoMFM I系统
attoMFM I采用紧凑设计，其主要用于低温和极低温环境中。在扫描时，探针是固定的，而进行样品⌒ 扫描。样品与探针之间的磁力梯度由光纤干涉的模式→，通过测量共振频率或相位变化而确定。 在实验过■程中，样品和探针保持一定的距¤离，典型值为10-100nm。工作在共振频▽率模式时，PLL用于激发微悬臂，进行闭环扫描，实现极〗高的空间分辨率（10.7nm，如下图）。 |
attoMFM I特点与技术优势 | attoMFM I技术参数 |
+ 工作模式：MFM、接触式/半接触式/非接触模式AFM、导电AFM、EFM + 可升级到SHPM、共聚焦显微镜、SNOM和STM + 5X5X5mm粗定位范围，4K + 30umX30um扫描范围，4K + MFM极高空间分辨率：好于11nm + 变温范围：mK - 373K + 兼容强磁场：可达15Tesla + 兼容1"和2"孔径⊙的磁体与恒温器，如Quantum Design-PPMS系统 + 极其紧凑和可靠MFM扫描♂头设计 + 闭环式扫描模式 + 外置CCD，用于检测低温环】境中样品的位置 + 用于超导体的vortex分布与定扎测ㄨ量 + 磁性颗粒的局域场测量 + 磁化率和磁滞回线测量 + 超导、磁畴、材料科学研】究 | + 样品定位范围】：5 X 5 X 5mm，4K + 样品位移步长：0.05 -3um @ 300K， 10 -500nm @ 4K + 扫描范围：40X40 um @300K；30X30 um @4K + 磁场强度： 0 -15Tesla (取决于磁体） + 变温范围：mK - 300K （取♀决于恒温器） + 工作真空环境：1X10-6mbar - 1bar（He交换气氛） + MFM侧向分↓辨率：好于20nm + RMS z-noise水平（4K）：0.05nm + z bit分辨率（全范围内）：7.6pm + z bit分辨率（扫描范围内）：0.12pm |
■ 低温强磁场扫描霍尔显微镜- attoSHPM系统
attoSHPM采用紧凑设计，其主要用于低温和极低温环境中。其探针是采用MBE生长的GaAs/AlGaAs霍尔传感器。局域⌒ 测量通过霍尔探针在样品表面进行扫描而实现，将测得的霍尔电压进行转换，即可计算出局域磁场强度。 |
attoSHPM特点与技术优势 | attoSHPM技术参数 |
+ 可升级到MFM、接触式/半接触式/非接触模式AFM、导电AFM、EFM、共聚焦显微镜、SNOM和STM + 5X5X5mm粗定位范围，4K + 30umX30um扫描范围，4K + 变温范围：mK - 373K + 兼容强磁场：可达15Tesla + 兼容1"和2"孔径的磁体与恒温器，如Quantum Design-PPMS系统 + 极其紧凑和可靠SHPM扫描头设计 + 定量和非破坏性磁性测量，mK温度 + 闭环式扫描模式 + 用于超导体的vortex分布与定扎测量 + 磁性颗粒的局域场测量 + 磁化率和磁滞回线测量 + 超导、磁畴、材料科学研究 | + 利用STM原理/音叉模式探测样品与探针之间的距离 + 样品定位范围：5 X 5 X 5mm，4K + 样品位移步长：0.05 -3um @ 300K， 10 -500nm @ 4K + 扫描范围：40X40 um @300K；30X30 um @4K + 磁场强度： 0 -15Tesla (取决于磁体） + 变温范围：mK - 300K （取决于恒温器） + 工作真空环境：1X10-6mbar - 1bar（He交换气氛） +SHPM探针：MBE生长的GaAs/AlGaAs异质结 + 分辨率：250nm超高分辨 + z bit分辨率，300K ：0.065nm，4.3um扫描范围 + 侧向（xy）bit分辨率，4K：0.18nm，12um扫描范围 + z bit分辨率，4K：0.030nm，2um扫描范围 |
