美国 RHK Technology 成立于 1981 年。作为 SPM 工业中的领军仪器制造商，RHK Technology 始终保持着鲜明的特色：创新性、可靠性、产品设计的开放性与优秀的客户支持。
凭借着其优异的系统设计、精良的制造工艺、再〓加上与世界著名科学家的紧密合作，二十多年来 RHK Technology 源源不断地向全世界科学家们输送着先进的、高精度的科学分析仪器。
美国 RHK Technology公司 超高真空变温扫描探针显微镜 系列产品包括：
● UHV STM/AFM系统
● 扫描探针显微镜表面分析系ξ 统
● 超高真▅空低温四探针表面分析系统 - UHV LT QuadraProbe
● 超高真空Beetle式变温变磁场系统 - UHV VT VMF STM/AFM
UHV STM/AFM系统
完整的超高真空 AFM/STM 系统，具有扫描速度快，
震动隔离●采用气柱或者弹簧方式，自动化程度高的特】点。
UHV STM/AFM子系统
超高真空 STM/AFM 首选子系统；样品变温范围从小于 25 K 到大于 1500 K；
配有震动隔离系ξ统；原位针〓尖替换与转移；
易于与其他设备连接，从而构建多腔体 SPM 系统。
扫描探针显微镜表√面分析系统
此系列的产品完美结合了 RHK SPM 与 Specs 生产的表面分析设备。可以进行多种表◥面分析操作；操作简单、实验结果精确。RHK Tech.公司已经◇和Specs公司联合起来，为全世界的科学家们提供性能最优异的SPM/表面分析▓联合系统。客户通过从RHK选择SPM，从Specs选择各种表面分析设备，自行设》计一套表面分析系统。RHK和Specs的工程师们会对该设备进行优化、融合，以达到Ψ 操作简便的目的。RHK公司提供给渥太华大学的系统包括了：RHK AFM、LEED/Auger、质谱仪↓以及Specs公司的XPS设备。
超高真空低温四探针表㊣ 面分析系统 - UHV LT QuadraProbe
QuadraProbe四探针表面分析系统保证了样品和四个STM探针都在10K下长时间稳定╱工作，每个探针的分辨率都达到了原∞子级分辨。在四个探针上方配有高分辨的SEM，用于对探针的粗定位与导航。样品分析室中还选ζ 配有XPS、UPS、ISS、Auger、LEED和SAM等。RHK公司将最先进的R9控制器配置到四探针系统中，用户可以非常方面的实现对四个探针的独』立控制。
超高真空Beetle式变温变磁场系统 - UHV VT VMF STM/AFM
VMF系列扫描探针显○微镜系统将变磁场环境引入到表面科学研究与实验中，无需制冷装置，即可实现0~10000Gauss面内︽连续可变磁场环境，在变磁场环境中，AFM/STM的功能和性能不受任何影响；样品的变温范围从∏25K~1500K。
