技术参数：
分析元素范围：Na（11）－U（92）
激发电压：最大100kV
X光管功率：600W
二次靶: 最多可♂安装15个
探测器: 超大面积高纯Ge
分辨率: <135ev
主要特点：
• 专利Gd靶材——采用稀土元素钆Gd为靶材，对于重元『素的K系线激发效率非常高.
• 独有600W高压●发生器——工作电压可达100kV，可以测量重金属的K线，从而使∏重金属的灵敏度大大提高。(传统的能谱仪和现有的波长色散型都只能测量重金←属的L线,而K线的强度要比L线的强度高一个数量级)
• 三维偏╲振技术——利用三维偏振激发源，X射线管、偏振靶或二次靶与试样的几何布局是三维，使用偏振光或二次靶激发样品，提ξ 高了激发效率并大大降低了原级谱背景，从而降低了谱仪检出限。
• 二次靶技术——根※据待测元素及试样的组成，选择最佳的二次靶用作激发源，谱仪可提供↘多达15个二次靶(标准9个)。
• 滤光片——进一步降低检出限，可有多达5种供选择。
• 独有Ge探测器PAN-32——其超大探测面积30mm2和5mm厚度，检测X射线能Ψ 量范围宽达0.7-100 keV，分辨率小于140eV,最大计▅数达到创记录200,000cps。其在原⊙子序数20(Sc)到92(U)达到100%的转换效率。在高能量区∞(17keV以上)，其分辨率优于波长色散的晶体如LiF200的分辨率。
