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                X荧光镀层测厚仪

                X荧光镀层测厚仪
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                天瑞
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                高教
                江苏 苏州 昆山
                详细说明

                性能特点

                满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
                φ0.1mm的小孔准直器可↘以满足微小测试点的需求
                高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
                采用高度定位激光,可自动定位测试高度
                定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
                鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
                高分辨率探头使分析结果更加精准
                良好的射线屏蔽作用
                测试口高度敏感性传感器保护

                技术指标

                型号:Thick 800A
                元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
                同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
                分析含量一般为ppm到99.9% 。
                镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
                任意多个可选择的分析和识别模型。
                相互独立的基体效应校正模型。
                多变量非线▓性回收程序
                度适应范围为15℃至30℃。
                电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
                外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
                样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
                重量:90kg

                标准配置

                开放式样品腔。
                精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现★三维移动。
                双激光定位装置。
                铅玻璃屏蔽罩。
                Si-Pin探测器。
                信号检测电子电路。
                高低压电源。
                X光管。
                高度传感器
                保护传感器
                计算机及喷墨打印机

                应用领域

                黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
                金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
                主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。


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