FT150（FT150／FT150h／FT150L）日本日立X射线荧光镀层厚度测量仪
日立（主营EA1000AIII、EA1000VX、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX、FT110A、FT9300、FT9500、FT9500X、FT9550X、FT150、FT150h、FT150L）,FT110A系列产品,搭载了性能X射线管，实现了高精度的测定。FT110A极微小准直管和可变焦距光学系统的组合，实现了对极微小部分的测定。对有段差的样品也适用。
1. 高速测量：通过X射线检测机△的改良，对于极具代表性的Au／Pd／Ni／Cu（金／钯／镍／铜）多镀层测量，相比以前⊙机型，效率提高了2倍以上。
2. 对应超小型的芯片零部件的厚度测量（FT150h：FT150h通过最＠新开发的聚光导管，可以测量超小型芯片零部件（电容、电阻等）的电极部的镀层厚度测量。
3. 兼顾＠ 安全性和简便性：采用防止X射线泄露的密集型框架和大开口且可以方便开启和关闭的样◣品门，兼顾╳安全性和简便性。「FT150L」可以对应最大600×600mm的大型线路板。
X射线荧光镀↘层厚度仪「FT150系列」（FT150／FT150h／FT150L）是采用聚光X射线的聚光导管，可对微小部的镀层厚度进行高速测量№的高性能仪器。通过X射线检测仪▽器的改良，在线路板和连接器等使用的Au／Pd／Ni／Cu（金／钯／镍／铜）多镀层检测中，其测ξ量速度与本公司以往机型（FT9500X，以下相同）相比，提高了2倍以上。在「FT150h」里通过新开发的聚光导管也可以测量超小型芯片零部件的端♀子镀层厚度。而且跟以往机型相同，为操作员的安全和安心考虑，采用X射线泄露的可能『性极小的密集型框架。新设计的样品室门采用⊙大开口，同时保证了∮开启和关闭的便捷性。并且通过大型观∩察窗口，可以方便地︽取放和定位样品。另外，操作软件通过图标和便捷画面在提高〓了操作性的同时，可通过数据自动保存功能减轻操作员的业务。通过这些改进，「FT150系列」实现了高精度?迅速的镀层厚度测量，为测量工作的效率化和成本削减≡做出了贡献。
