前言
激光剥蚀（Laser Ablation简称LA）是一种直接固体取样技术。该技术利用激光脉冲，在固体样品上剥离出极少量的样品物质（皮克至飞克级别）。相对与其它原子光谱方法，LA联用电感耦合等离子体质谱（LA-ICP-MS）技术具有独特的优势，例如极少的样品前处理过程、高精度、高灵敏度（检测限低至ppb级）。LA-ICP-MS技术不仅可以得到元素含量信息，还可得到样品同位素信息。根据激光采样方式的不同，LA-ICP-MS不仅可以用于传统的样品整体分析，还可以用于空间分辨的分析，例如〇绘制元素/同位素分布图、深度剖析等。
本案例采用J200 LA激光剥蚀进样系统联用Bruker公司的Aurora Elite ICP-MS超高灵敏度质谱仪，组成LA-ICP-MS分析系统，对NIST标准玻璃样品SRMs（含有痕量的目标元素）进行分析，以确定可以检测到的绝对质量及检测限（LODs）。案例中采用ξ的J200 LA激光剥蚀进样系统由美国应用光谱公司制造——美国应用光谱公司即ASI公司，由美国劳伦斯伯克利国家实验室首席科学家 Rick Russo建立。
